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铜镍金测厚仪
点击次数:172 发布时间:2022/8/22 13:27:17
技术指标
X荧光膜厚仪型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
标准配置
X射线电镀层测厚仪开放式样品腔。
二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
镀层厚度检测仪产品特点
样品处理方法简单或无处理
可**对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务
性能特点
满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用
测试口传感器保护
天瑞仪器产业园期已经竣工并于2010年5月投产使用。天瑞仪器分析测试产业园历经三年建设,总投资数亿元的现代化园区占地100亩。产业园分为期和*二期,期总建筑面积约34,000平方米,投资逾亿建设的10层高智能化研发大楼以及工业别墅厂房目已完工投入使用, 园区按“统一规划、合理布局”的原则,坚持高起点、高标准、高质量的要求,生产厂房设计符合现代仪器制造环境的要求。负压式通风、除尘设施、自然采光设计与防静电等技术的应用,良好的生产环境,符合*环保和节能的要求,体现了绿色生产的理念。
原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司.
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