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镀层膜厚分析仪
点击次数：172 发布时间：2022/9/5 17:27:19
1、自动化程度高、选择性好、操作简单、分析速度快，可同时进行多元素定量分析。如在1~2min之内可以同时对钢中20多个合金元素进行测定，控制冶炼工艺，加速炼钢过程。
2、校准曲线线性范围宽。由于广电倍增管对信号的放大功能很强，对于不同强度的谱线可使用不同的放大倍率(相差可达一万倍)，因此广电光谱法可用在同一分析条件对样品中含量相差悬殊的很多元素从高含量到痕量同时进行测定。
3、准确度高。采用摄谱法的光谱分析，因感光板及测光方面引入的误差一般在1%以上，而采用光电法时，测量误差可降至0.2%一下，因而具有较高的准确度，有利于进行样品中高含量元素的分析。
4、检出限低。光电光谱分析放入灵敏度与光源性质、仪器状态、试料组成及元素性质等均有关。一般可对固定的金属、合金或粉末采用火花或电弧光源时，检出限可达0.1~10ug/g。对溶样样品用icP光源时检出限达1ng/ml~1ug/ml。用真空型光电光谱仪时对碳、硫、磷等非金属也具有较好的检出限。
型号：Thick 800A
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
***移动平台可***测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果*加***
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
开放式样品腔。
***二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和机构；电镀行业。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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