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化学镍测厚仪
点击次数：186 发布时间：2022/3/31 14:58:34
是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到50μm。
快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
仪器介绍
Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率为139eV，产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合规定；样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司被授予 “江苏省技术企业”，“江苏省软件企业”，“江苏省科技创新示范企业”，“江苏省规划布局内重点软件企业”等荣誉称号。X荧光光谱仪（ROHS检测仪）系列产品被认定为“国家重点新产品”和“江苏省技术产品”。产品品种齐全，为环境保护与安全、工业测试与分析及其它域提供方案。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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