公司新闻/NEWS
石灰石成分元素检测仪*江苏天瑞新闻
阅读次数：623 发布时间：2019/7/1 9:54:49
石灰石成分元素检测仪产品介绍
1、准直器技术：分光准直器采用自主研发的技术，属。
2、多路多道谱仪的全谱采集：WDX型X荧光分析仪在X荧光分光系统设计、多路多道谱仪的全谱采集和检测技术等方面均具有独创性，有效地提高了仪器的计数率和稳定性；同时，该技术的采用，使每位操作人员都可以简单直观的判断仪器的工作状态，有效防止不可靠分析数据的产生。属。
3、独创超短光路：在同样的测量精度下，采用固定分光道，可以使用小功率X光管，免除了大功率X光管复杂的冷却系统，提高了仪器的可靠性，WDX系列X荧光分析仪在吸收技术的基础上，独创超短光路，减小了X光管的功率，延长X光管的使用寿命，简化了冷却系统的结构。大幅度降低了维护维修成本。属。
4、故障自动检测装置：的故障自动检测装置，可以实时监控仪器参数，并自动报警。属。
5、安全有效的自动保护装置：冷却系统和电路系统完全由底层工业级PC104系统控制，有效保护X光管。
6、全中文软件：操作简单对操作人员无特殊要求；避免操作人员英语差而导致误操作。（国外仪器的汉化软件功能不兼容，有死机现象，故一般都使用英文版本，对操作人员要求很高）
7、关键部件：X光管选用世界一流生产商美国VARIAN；分光晶体采用TAP、PET、InSb、Ge、LiF等平弯结合配置，保证了各元素的测量精度对于Na、Mg元素选用档的多层膜晶体，有效防止晶体受潮。
8、操作和通讯系统：WINDOWS XP中文操作系统；光谱仪全面自动化控制的专家操作系统视窗软件；包含有应用于在线远距离仪器诊断服务所需要的硬件和软件；
9、专家操作系统：允许用户使用键盘或鼠标简单地进行日常分析工作，同时它是功能强大的、操作便捷的操作系统；包含分析条件预编程技术，允许用户制定各种预编程条件，丰富、强大、灵活的分析管理功能；用户自定义分级密码；在线标准化功能，产品质量自动判定功能；包含多种分析结果输出格式模板，脱机计算功能，质量控制系数计算功能等。
10、流气密度稳定调节系统：流气密度稳定调节系统改被动调节为主动调节，显著地提高了控制精度，提高了峰位及元素含量检测的稳定性与重复性；(该技术已申请国家)
11、荧光信号采集卡：改进了荧光信号采集卡性能，提高了峰位判定精度、峰位漂移校正的可靠性和有效性，改进了光路机械结构设计，保证了仪器的长期可靠运行。
12、漂移校正：增加了校验样校正仪器长期漂移的方法，无需修正工作曲线即可简单可靠地校正仪器；固定分光道不需要复杂的测角系统，不需要定期对分光光路进行校准，使得仪器的操作更加简单，降低对仪器操作人员的技术要求。属。
产品说明、技术参数及配置
WDX-4000 石灰石成分元素检测仪是江苏天瑞仪器股份有限公司，在国家重大科学仪器设备开发专项（项目编号：2011YQ170065）资金支持下，融合独有的科技创新和发明，推出的国内首台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪。WDX-4000通过了《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的测试，能检测元素周期表上从Be-4到U-92的元素，可应用于地质、水泥、钢铁和环保等领域。WDX-4000采用大量通用化的设计，可以提供给客户*经济便捷的维护。
性能特点:
创新的测角仪设计
保护的创新型钢带传动系统，可以提供稳定、无回程间隙的旋转运动，以保证精度的角度定位要求；
θ/2θ两轴独立运动，并配合伺服电机和圆光栅构成闭环系统；
永磁式交流伺服电机提供业界的高速平滑运动；
圆光栅测角重复性可达±0.0002度，精度达±0.0006度，足以保证优异的角度测量性能；
数字多道分析仪
12位，80M/s的模数转换采样率，是业界分辨率的信号采样系统，保证了信号采集的完整性
基于高速FPGA框架以及可靠的数字信号处理算法，4096道分析系统足以从噪声中筛选正确的X射线信号
大动态范围测量，有效减少了探测器增益调节次数
X射线光管和高压
标准的4kW大功率电源系统，支持高灵敏度的痕量检测以及更快的检验速度
50um/75um的铍窗厚度保证超高的X射线穿透率，尤其适合低能X射线穿过
高压电源电压和电流可达60kV和160mA，用户可根据实际需要灵活设置电压和电流参数
双通道水冷系统，电导率保持在1uS以下，以限度延长光管工作寿命其他
*多可支持10块晶体，可根据客户需求提供专门优化的人工多层膜晶体，以提升轻元素的检测能力
*薄可达0.3um的正比流气计数器窗膜，极大提升了轻元素的光通量
其他：
光谱室温度控制稳定性在±0.05C以内
晶体、准直器和滤光片都采用自动切换控制
软件
完整而丰富的软件功能
32位软件系统，优异的可操作性和人机交互界面
成熟的经验系数法配合标准样品提供准确可靠的检测数据
基本参数法可提供多样化的分析手段，可进行无标样的半定量和定量分析
集成的SQLite数据库用于保存实验数据，方便数据查询和管理
技术指标
进样系统
样品形式：固体
样品尺寸：51.5 mm × 40 mm
样品重量：*重500g
进样系统：双进样系统，标备除尘过滤器和预抽真空系统；一个样品测量的同时给另一个样品预抽真空，互不干扰
自动进样机：自动机械手进样系统，*多可装168个样品
自旋装置：3种自旋速度(低、中、高)
X射线光管
铍窗：50um/75um超薄铍窗，用以保证X射线的高通过率
阳极靶材料：标配铑靶，可选铜靶、钼靶、钨靶，铬靶，铂靶等
工作模式：样品进样时保持工作状态不变
水冷系统：双路水循环系统，电导率保持在1uS以下
高压电源
输出方式：1kV和1mA的标准调节单位，通过12位DA进行精细调节
长时间稳定性：0.01%/8 hours
温度稳定性：50 ppm/C
(20 ppm/C可选).
数据
功率：4kW
KV/mA范围：电压20-60KV，电流10-140mA；电压75kV，电流160mA可选.
测角仪
工作模式：创新型钢带传动系统，无摩擦，无回程间隙，带有圆光栅反馈，θ/2θ两轴独立运动
转角速度：6000 2θ/min
测角精度：0.006° θ / 2θ
测角重复性：0.0002° θ / 2θ
步进角度：*小 0.0001°，1°
角度扫描范围：流气比例计数器:12° to 150°@2θ
闪烁计数器: 0° to 120°@2θ
光路
准直器面罩：单面罩，(其他尺寸27， 32 or 50mm可选)
主准直器：*多可装3个: 100， 150， 300， 550， 700 or 4000 um， 可选
主滤光片：*多4片: Pb，Al，Cu等元素可选
晶体：*多10个: LiF420，LiF220，LiF200，Ge111，PE002，InSb， TIAP，以及用于轻元素测量的各种人工多层膜晶体.
探测器：流气比例计数器 (FPC)， 可配0.3um厚的窗膜
闪烁计数器 (SC)
光室真空度：<15Pa
信号处理
数字多道分析仪：12位，80M/s采样速度，4096道分析能力，采用FPGA框架以及可靠的DSP算法用于信号和噪声分离
计数率：流气比例计数器:2Mcps
闪烁计数器: 1.5Mcps
脉冲漂移和增益校正：自动
时间校正：自动
联系我们/CONTACT US
联系人：王经理
电 话：0512-50355615
手 机：15151668829
地 址：江苏苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号
邮 编：215300
传 真：0512-50355615
邮 箱：2661481387@qq.com
产品分类/CLASS
X射线镀层测厚仪
- 凹槽镀金膜厚仪
- X射线光谱测厚仪
- 汽车配件镀层测厚仪
- 铜上镀银X射线无损测厚仪
- LED支架镀层测厚仪
- X射线荧光无损电镀层膜厚测量测厚仪
- X射线镀锌层测厚仪
- x射线锌镍合金测厚仪
- 电镀XRF镀层测厚仪
- X荧光镀层分析仪
- 金属件镀层测厚仪
- 紧固件电镀镀层厚度检测仪器
- X射线镀金测厚仪
- 无损多层镀层测厚仪
- 电镀金镍测厚仪
- 金属镀层厚度检测仪
- ABS塑料镀铜镍金测厚仪
- 镀铜镍锌测厚仪
- x光镀层检测仪
- 磁性材料电镀层测厚仪
- 电镀层测厚仪
- 镀金层测厚仪
- 镀银层测厚仪
- 镀镍层测厚仪
- 镀锡层测厚仪
- X射线金属镀层测厚仪
- x荧光镀层测厚仪
- X荧光测厚仪
- 黄铜镀镍测厚仪
- X射线无损测厚仪
- X-RAY镀层测厚仪
- 镀银无损测厚仪
- x光镀层测厚仪
- x射线荧光镀层测厚仪
- x射线电镀测厚仪
- 铜排镀锡层测厚仪
- 电镀膜厚测试仪
- 表面镀层测厚仪
- 金属镀层测厚仪
- XRF镀层测厚仪
- x射线荧光测厚仪
- 光谱镀层测厚仪
总访问量：2152634 
天瑞仪器
