公司新闻/NEWS
江苏天瑞仪器股份有限公司重金属检测仪&江苏天瑞新闻
阅读次数：656 发布时间：2019/7/24 10:28:26
是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行精确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。
技术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
性能特点
高效超薄窗X光管，指标达到水平
*新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
标准配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS分析、卤素）
联系我们/CONTACT US
联系人：王经理
电 话：0512-50355615
手 机：15151668829
地 址：江苏苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号
邮 编：215300
传 真：0512-50355615
邮 箱：2661481387@qq.com
产品分类/CLASS
X射线镀层测厚仪
- 凹槽镀金膜厚仪
- X射线光谱测厚仪
- 汽车配件镀层测厚仪
- 铜上镀银X射线无损测厚仪
- LED支架镀层测厚仪
- X射线荧光无损电镀层膜厚测量测厚仪
- X射线镀锌层测厚仪
- x射线锌镍合金测厚仪
- 电镀XRF镀层测厚仪
- X荧光镀层分析仪
- 金属件镀层测厚仪
- 紧固件电镀镀层厚度检测仪器
- X射线镀金测厚仪
- 无损多层镀层测厚仪
- 电镀金镍测厚仪
- 金属镀层厚度检测仪
- ABS塑料镀铜镍金测厚仪
- 镀铜镍锌测厚仪
- x光镀层检测仪
- 磁性材料电镀层测厚仪
- 电镀层测厚仪
- 镀金层测厚仪
- 镀银层测厚仪
- 镀镍层测厚仪
- 镀锡层测厚仪
- X射线金属镀层测厚仪
- x荧光镀层测厚仪
- X荧光测厚仪
- 黄铜镀镍测厚仪
- X射线无损测厚仪
- X-RAY镀层测厚仪
- 镀银无损测厚仪
- x光镀层测厚仪
- x射线荧光镀层测厚仪
- x射线电镀测厚仪
- 铜排镀锡层测厚仪
- 电镀膜厚测试仪
- 表面镀层测厚仪
- 金属镀层测厚仪
- XRF镀层测厚仪
- x射线荧光测厚仪
- 光谱镀层测厚仪
总访问量：2152634 
天瑞仪器
