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手持式x射线荧光镀层测厚仪产品供应@新闻快讯
阅读次数：451 发布时间：2019/10/11 16:17:44
手持式x射线荧光镀层测厚仪产品介绍
电子行业 镀银层厚度标准检测仪主机壹台，含下列主要部件：
(1) X射线源：微型高压光管一体化产品，5KV～50KV、5～200μA射线管，Ag靶。
(2) 探测 器： Fast-SDD探测器，高性能、高分辨率，半导体电制冷
(3) 数据处理：高性能放大电路和数字多道，嵌入式PDA
(4) 高压系统：5kV～50kV，5～200μA
(5) 高清晰、高分辨率的嵌入式PDA， 软件安装在Microsoft Windows CE系统，操作灵活简单，很好的支持PDA系统升级和软件升级。
(6) 可充电锂离子电池两块，并支持电源适配器
(7) 110v/220v通用适配器和车载充电器各一根。
(8) 4GB SD记忆存储卡和SD读卡器，方便客户数据存储
Explorer 3000手持式镀银层测厚仪天瑞仪器针对金属镀层检测特别研发设计的手持银层检测分析仪。仪器引入数字多道技术，使检出限更低，稳定性更高，性能媲美台式机；小巧便携的体积使检测工作更简单、更轻松。
“快速、准确、到位”的服务
*短交货时间
*快安装
*短维修周期
*长保修期
*个性化服务
维护费用
高压开关产品
电子行业 镀银层厚度标准检测仪厂家优势
天瑞公司有完善的质量管理体系，从进口核心零部件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，进行产品质量的管理，每道工序进行严格的检验，绝不允许不合格的流到下到工序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不”和“三不放过”，确保产品质量可靠，用户使用放心。
X荧光测厚仪的运用分析，有需要的客户可以仔细阅读一下，以下请跟随小编一起来阅读吧。镀层的厚度决定了零件的耐腐蚀、装饰效果、防滑耐磨能力，必须根据设计要求操作，保证镀层厚度。
镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线，不同的元素有不同的特征X射线；探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号转变为模拟电信号；经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理；计算机独有的特殊应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
它能检测出常见金属镀层厚度，无需样品预处理；分析时间短，仅为数十秒，即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm。
X荧光镀层测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点，广泛用于镀层厚度的测量、电镀液浓度的测量。
仪器介绍
X荧光镀层测厚仪Thick800A是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率为139eV，处于水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合规定；样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的专用测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，技术达水平。
优点简述
该款镀层仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、首饰手表、检测机构等行业量身打造的专业仪器。XYZ三个可调节方向、全方位的样品观察系统和激光定位使得检测更方便。超大的测试内部空间，良好的散热效果和抗电磁干扰能力，模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便，可适应恶劣工作环境
电镀适用范围
铁基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni， □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基体－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
测量标准
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
应用优势
1 快速：一般测量一个样品只需要10S～60S，样品可不处理或进行简单处理；
2 无损：物理测量，不改变样品性质；
3 准确：对样品可以精确分析；
4 直观：直观的分析谱图，元素分布一幕了然，定性分析速度快；
5 环保：检测过程中不产生任何废气、废水。
性能特点
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
技术指标
仪器：X荧光镀层测厚仪
型号：Thick 800A
外型尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸： 500(W)×350(D)×140(H) mm
样品台尺寸： 230(W)×210(D)mm
Z轴升降平台升降范围： 0～140mm
平台移动测量范围 ： 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
分析方法： FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
测量元素范围 ：原子序数为16S～92U之间的元素均可测量
同时检测元素 一次可同时分析*多24个元素，五层镀层
检出限 ：金属镀层分析*薄可达0.005μm
厚度范围：分析镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
稳定性： 多次测量重复性可达1%
检测时间 ：30-60秒
探测器及分辨率 ：25mm2Be窗口SDD探测器，分辨率140±5eV
激发源： 50KV/1000uA-W靶X光管及高压电源
多道分析器 ： DMCA数字多道分析技术，分析道数4096道
准直器和滤光片 固定Ф0.2mm准直器，可选配其他孔径，Al滤光片
精确定位 ：平台电机重复定位精度小于0.1um
样品观察： 配备CCD多彩摄像头，图像放大可达40倍，实现微小样品清晰定位。
平台稳定性 ：Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力，实现平台的恒力升降，有效降低Z轴电机负荷，并有效保证了Z轴的垂直度。
安全性 双重安全保护设施：防撞激光检测器与样品室门开闭传感器；待机无辐射，工作时辐射水平远低于安全标准，且具有软件连动装置。
操作环境温湿度 ：15℃～30℃，≤70%
仪器重量 ：90kg
工作电源：交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
软件优势
采用公司*新的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
安装要求
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
售后保障
1. 仪器进行终身维修；
2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；
3. 技术服务的响应期限：提供*有效的技术服务，全方位的技术指导。
应用领域
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。
检测实例
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联系人：王经理
电 话：0512-50355615
手 机：15151668829
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邮 编：215300
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产品分类/CLASS
X射线镀层测厚仪
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- X射线光谱测厚仪
- 汽车配件镀层测厚仪
- 铜上镀银X射线无损测厚仪
- LED支架镀层测厚仪
- X射线荧光无损电镀层膜厚测量测厚仪
- X射线镀锌层测厚仪
- x射线锌镍合金测厚仪
- 电镀XRF镀层测厚仪
- X荧光镀层分析仪
- 金属件镀层测厚仪
- 紧固件电镀镀层厚度检测仪器
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