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能量色散x荧光分析仪产品供应@新闻快讯
阅读次数：385 发布时间：2019/11/20 9:55:22
能量色散x荧光分析仪应用领域：
专为粉未冶炼行业研发的一款高配置X射线检测设备，主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析领域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大专院校和工矿企业中也得到广泛应用。
性能优势：
1.超低能量分辨率，轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器，探测器分辨率***达到139eV，各项指标优于国家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。
2. 测试精度更高，检出限更低
专业化的样品腔设计，带可调速的自旋样品腔，能有效的测定轻元素和减少样品均一性的影响，提高样品的测试精度。
采用超小超真空的样品腔设计，保证测试时达到10Pa以下，使设备的测试范围可从F元素起测试，大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
3. 分析速度更快，从第1秒即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术，其线性计数率可达100kcps，可以更加快速的分析，从第1秒就可以得出定性定量结果，
设计成高计数率，大大提高了设备的稳定性。
4. 一键式智能化操作
专业软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，使操作简易，对操作人员限制小的特点。
5. 强大的自动化功能
自动化程度高，具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性：利用解谱技术使谱峰分解，采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统，光程更短，光路损失更少，激发效果更佳。
8. 三重安全防护功能
三重安全防护功能，自动感应，没有样品时仪器不工作，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。
9. 安全警示系统
警告指示系统，通电时绿色指示灯亮，测试时黄色辐射指示灯闪烁，防止误操作。
仪器配置：
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
高效超薄窗X光管
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
进的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型
技术参数：
型号：EDX3600K
X射线源：50KV、1mA
样品腔体积：Φ40.5mm×39.5mm
分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：原子序数为9～92[氟（F）到铀（U）]之间的元素均可测量
检测元素：同时分析元素达三十多种，可根据客户需要增加元素
含量范围：ppm～99.99%
检测时间：10秒以上
检测对象：标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率：超大超薄的SDD探测器，分辨率 为144±5eV,可选配极速探测器***至125eV
激发源：铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
测井环境：超真空系统，10秒可抽到10Pa以下
滤光片：6种滤光片组合自动切换
自旋装置：可调速的自旋装置
检出限：对样品中的大多数元素来说，***检出限达5～500ppm
真空系统：超真空系统，10秒可到10Pa
数据传输：数字多道技术，快速分析，高计数率
测试台：360°电动旋转式
保护系统：样品腔为电动控制，上盖打开时测试已完成
样品放置：独特的样品杯设计，自带压环，可防止样品晃动
数字多道技术：计数率>50kcps，有效计数率高至500kcps
外形尺寸及重量：669mm×540mm×874mm，90KG
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度：15℃～30℃
软件优势：
采用公司***的能谱EDXRF软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作，操作简易，对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
全新的软件界面和内核，采用FP和EC软件组合的方法，应用面更加广泛。
SUPER XRF 2400是一款功能强大的X荧光光谱仪。它综合了仪器的常规测试(普通模式)和特有的光路系统测试 (超锐模式)，普通模式能完成全元素，贵金属，RoHS，镀层等常规测试，超锐模式能对客户比较关心的低含量元素进行更***的测试。主要是使用天瑞仪器特有超锐光路系统，降低仪器的背景噪音，提高仪器的检出能力，从而提高仪器的整体检测性能。
性能特点
能量色散x荧光分析仪特殊光路系统
采用特殊的光路系统，可满足不同基体中痕量元素的测量，提高信噪比，降低检出限。
400W大功率X光源
400W大功率光源使难以激发的痕量元素获得更高的计数率，比普通EDXRF仪器的元素检出限降低一个数量级，更加适合痕量元素的检测。
数字多道技术
采用***数字多道技术，仪器可探测的计数率可高至100kcps,提高了仪器的测量精度,缩短了测量时间。
油冷散热系统
油冷散热系统，保证了大功率X光源的散热，使仪器的运行更加稳定。
光闸系统
光闸系统，保证X光源的稳定性，同时提升X光管使用寿命。
抽真空系统
抽真空系统，可以满足轻元素的测量。
自动进样系统
自动进样系统，可以一次连续检测十二个样品，大大提高了测试人员的工作效率。
仪器技术指标
元素分析范围从钠（Na）到铀（U）
可进行测试模式之间的转换，提高测试的效率
可对12个样品进行自动切换测试
一次可同时分析*多几十种元素
分析检出限zui高可达0.1ppm
分析含量一般为0.1ppm到99.9％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性为0.1％
温度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
标准配置
超锐X光源和样品激发机构
上盖电动开关的大容量样品腔
可自动切换的准直器，滤光片
高清晰CCD摄像头
SDD探测器
数字多道采集处理系统
高低压电源
进口400W端窗光管油冷散热系统，具有自动控温功能
样品自动切换系统
全自动真空系统
专业X荧光分析软件
计算机及喷墨打印机
外观尺寸： 752（W）x759（L）x 988（H）
样品腔尺寸：￠376×50 mm
重量：小于250Kg
应用领域
SUPER XRF 2400不仅可满足中心实验室和分包实验室的分析需要，而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业
| SUPER XRF2400 仪器检测玩具中有害元素检出限 | |||
| 金属中有害元素 | 检出限 | 非金属有害元素 | 检出限 |
| Pb | 10mg/kg | Pb | 1.3mg/kg |
| As | 10mg/kg | As | 0.5mg/kg |
| Cr | 20mg/kg | Cd | 2.3mg/kg |
| Hg | －－ | Sb | 2.2mg/kg |
| Cd | 13mg/kg | Se | 0.7mg/kg |
| Hg | 2.5mg/kg | ||
| Ba | 2.4mg/kg | ||
| Cr | 4.1mg/kg |
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