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螺栓螺母螺丝镀层测厚仪@江苏天瑞新闻
阅读次数：463 发布时间：2019/12/31 9:07:19
螺栓螺母螺丝镀层测厚仪镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：
光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。该方法需要对样品进行破坏性分割，对横切面进行放大测量。
、X-ray法（X射线法）。天瑞仪器镀层测厚仪用的就是该方法适用标准为：GB/T16921-2005
库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解，经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同，被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时，可由试验开始到试验终止的时间计算；用非恒定电流密度溶解时，由累积所耗电量计算，累积所耗电量由电量计累计显示。
技术参数
1 型号 镀层测厚仪Thick800A
2 外型尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mm
3 样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 样品台尺寸 230(W)×210(D)mm
5 Z轴升降平台升降范围 0～140mm
6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
8 技术参数
1 型号 Thick800A
2 外型尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mm
3 样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 样品台尺寸 230(W)×210(D)mm
5 Z轴升降平台升降范围 0～140mm
6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
8 测量元素范围 原子序数为16S～92U之间的元素均可测量
9 同时检测元素 一次可同时分析多24个元素，五层镀层
10 检出限 金属镀层分析薄可达0.005μm
11 螺栓螺母螺丝镀层测厚仪厚度范围 分析镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
12 稳定性 多次测量重复性可达1%
13 检测时间 30-60秒
14 探测器及分辨率 25mm2Be窗口SDD探测器，分辨率140±5eV
15 激发源 50KV/1000uA-WX光管及高压电源
16 多道分析器 DMCA数字多道分析技术，分析道数4096道
17 准直器和滤光片 固定Ф0.2mm准直器，可选配其他孔径，Al滤光片
18 精确定位 平台电机重复定位精度小于0.1um
19 样品观察 配备CCD多彩摄像头，图像放大可达40倍，实现微小样品清晰定位。
20 平台稳定性 Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力，实现平台的恒力升降，有效降低Z轴电机负荷，并有效保证了Z轴的垂直度。
21 安全性 双重安全保护设施：防撞激光检测器与样品室门开闭传感器；待机无辐射，工作时辐射水平远低于安全标准，且具有软件连动装置。
22 操作环境温湿度 15℃～30℃，≤70%
23 仪器重量 90kg
24 工作电源 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
五、软件优势
采用公司新的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
测量元素范围 原子序数为16S～92U之间的元素均可测量
涂层测厚仪高精度高性价比
1：时尚小巧，便携易用，超高性价比可进行在线系统升级，定制化软件服务。
2：可选上位机软件，具有完善的数据库功能。
3：传感器采用LEMO接头，稳定可靠，经久耐用。
4：采用7号电池供电，更换随意概述本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器。
镀层测厚仪特点
针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析高5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
X荧光镀层测厚仪原理
X荧光分析仪原理
利用初级X 射线激发待测物质中的原子，产生次级X 射线也就是X荧光而进行物质成分分析的方法。 当原子受到X 原级X 射线的激发原子内层电子会出现空穴，原有的平衡状态被破坏，较外层的电子会跃迁到内层电子空位，内层电子和外层电子会有能级差，多余的能量会以X射线的形式释放出来也就是我们说的次级X 射线光也叫X 荧光。而不同的元素它们的能量都是不一样的，通过识别它们的能量就可以判断是什么元素，这就是定性分析的基础。
X 荧光光谱仪主要由激发源、分光装置、探测器、数据处理，输出等单元组成。激发源的作用就是产生初级X 射线。它由高压电源和X 光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。分光装置的作用是分出不同波长的X 射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。探测器的作用是将X 射线能量光信号转化为电信号，常用的有正比计数管、半导体探测器等。数据处理由放大器、多道脉冲分析器、组成。通过标样得到已知含量的强度来对未知含量的样品进行对比分析，而得到被测元素的含量。
(1) X射线荧光法（XRF）：能量X荧光镀层测厚仪(质量膜厚)
测试原理：XRF测厚是通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法（算法有FP法和经验系数法）得到一个接近实际对应关系的曲线。
曲率半径的影响
涡流测厚仪使用的校对样板和校对时用的基底多为平面型,被测件表面往往不是平面,而是外圆面或内孔面。这样的弯曲表面对测量结果有很大的影响。这主要是由于改变了测头(线圈)和被测表面空气间隙。为此,使测头沿轴向母线测量,可以得到较满意的测量结果。但是,当曲率半径较小时,为提高测量结果的准确度,应当根据所用测头的具体情况,做必要的试验才成。在仲裁检测时,尤其应当如此。如我们为煤碳部验收德国进口的液压支架时,预先按被测件曲率半径尺寸作了校对件,使验收工作收到了满意的结果。
被测基底厚度的影响
校对仪器时采用的基底厚度多是较大的,而被测件的基底厚度一般变化较大。当被测件基底厚度大寸;IOmm时,其厚度变化对测量结果的影响可以忽略不计。当基底厚度小J二10mm时.其影响就不能忽略,特别是小于3mm时,其影响已可超出测量值的5%。因此,在测量较薄的工件时,必须用和被测基底厚度相当的基底校对仪器。这是因为,当工件较薄时,涡流效应大大降低,使测量结果的数值明显加大。为了解决上迷问题,可以将薄的被测件放在较厚的基底上测量。实践表明,这样作就可以避免涡流效应的影响
仪器介绍
镀层测厚仪Thick 600采用下照式结构，仪器操作简单，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求。
应用领域
铁基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基体－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
技术参数
1 分析元素范围：S-U
2 可分析多达3层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.02μm
4 多次测量重复性高可达0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 测量时间：30s-300s
6 计数率：1000-8000cps
7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。
仪器性能特点
1. 长效稳定X铜光管
2.半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3.采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
4.内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5.脉冲处理器，数据处理快速准确
6.手动开关样品腔，操作安全方便
7.三重安全保护模式
8.整体钢架结构、外型高贵时尚
9.FP软件，无标准样品时亦可测量
质量保证
1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；
2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；
3. 保修条款
3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；
3.2. 免费保修期内，维修相关费用全免；
4. 技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
5. 由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。
天瑞镀层测厚仪使用注意事项
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（好使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能保证佳的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。
被测部位的影响
试验表明,测量部位不同,测量结果的数值就不同,如靠近边缘处和棱角处,由于磁路截面减小,涡流效应降低,测量结果数值增大。所以,应当避免在靠近边缘和棱角处测量。
问：XRF镀层测厚仪的原理是什么?
答：1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
利用金相显微镜原理，对镀层厚度进行放大，以便准确的观测及测量。该方法需要对样品进行破坏性分割，对横切面进行放大测量。
、X-ray法（X射线法）。天瑞仪器镀层测厚仪用的就是该方法适用标准为：GB/T16921-2005
库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
利用适当的电解液阳极溶解精确限定面积的覆盖层，电解池电压的急剧变化表明覆盖层实质上完全溶解，经过所耗的电量计算出覆盖层的厚度。因阳极溶解的方法不同，被测量覆盖层的厚度所耗的电量也不同。用恒定电流密度溶解时，可由试验开始到试验终止的时间计算；用非恒定电流密度溶解时，由累积所耗电量计算，累积所耗电量由电量计累计显示。
技术参数
1 型号 镀层测厚仪Thick800A
2 外型尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mm
3 样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 样品台尺寸 230(W)×210(D)mm
5 Z轴升降平台升降范围 0～140mm
6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
8 技术参数
1 型号 Thick800A
2 外型尺寸 576(W)×495(D)×545(H) mm
3 样品室尺寸 500(W)×350(D)×140(H) mm
4 样品台尺寸 230(W)×210(D)mm
5 Z轴升降平台升降范围 0～140mm
6 平台移动测量范围 50mm(W)×500mm(D)×135mm(H)
7 分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法
8 测量元素范围 原子序数为16S～92U之间的元素均可测量
9 同时检测元素 一次可同时分析多24个元素，五层镀层
10 检出限 金属镀层分析薄可达0.005μm
11 螺栓螺母螺丝镀层测厚仪厚度范围 分析镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
12 稳定性 多次测量重复性可达1%
13 检测时间 30-60秒
14 探测器及分辨率 25mm2Be窗口SDD探测器，分辨率140±5eV
15 激发源 50KV/1000uA-WX光管及高压电源
16 多道分析器 DMCA数字多道分析技术，分析道数4096道
17 准直器和滤光片 固定Ф0.2mm准直器，可选配其他孔径，Al滤光片
18 精确定位 平台电机重复定位精度小于0.1um
19 样品观察 配备CCD多彩摄像头，图像放大可达40倍，实现微小样品清晰定位。
20 平台稳定性 Z轴测试平台采用恒力弹簧平衡重力，实现平台的恒力升降，有效降低Z轴电机负荷，并有效保证了Z轴的垂直度。
21 安全性 双重安全保护设施：防撞激光检测器与样品室门开闭传感器；待机无辐射，工作时辐射水平远低于安全标准，且具有软件连动装置。
22 操作环境温湿度 15℃～30℃，≤70%
23 仪器重量 90kg
24 工作电源 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
五、软件优势
采用公司新的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有高灵敏度、测试时间短、一键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
测量元素范围 原子序数为16S～92U之间的元素均可测量
涂层测厚仪高精度高性价比
1：时尚小巧，便携易用，超高性价比可进行在线系统升级，定制化软件服务。
2：可选上位机软件，具有完善的数据库功能。
3：传感器采用LEMO接头，稳定可靠，经久耐用。
4：采用7号电池供电，更换随意概述本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器。
镀层测厚仪特点
针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析高5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
X荧光镀层测厚仪原理
X荧光分析仪原理
利用初级X 射线激发待测物质中的原子，产生次级X 射线也就是X荧光而进行物质成分分析的方法。 当原子受到X 原级X 射线的激发原子内层电子会出现空穴，原有的平衡状态被破坏，较外层的电子会跃迁到内层电子空位，内层电子和外层电子会有能级差，多余的能量会以X射线的形式释放出来也就是我们说的次级X 射线光也叫X 荧光。而不同的元素它们的能量都是不一样的，通过识别它们的能量就可以判断是什么元素，这就是定性分析的基础。
X 荧光光谱仪主要由激发源、分光装置、探测器、数据处理，输出等单元组成。激发源的作用就是产生初级X 射线。它由高压电源和X 光管组成。后者功率较大，用水和油同时冷却。分光装置的作用是分出不同波长的X 射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。探测器的作用是将X 射线能量光信号转化为电信号，常用的有正比计数管、半导体探测器等。数据处理由放大器、多道脉冲分析器、组成。通过标样得到已知含量的强度来对未知含量的样品进行对比分析，而得到被测元素的含量。
(1) X射线荧光法（XRF）：能量X荧光镀层测厚仪(质量膜厚)
测试原理：XRF测厚是通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加，但不是直线关系；通过标样和软件及算法（算法有FP法和经验系数法）得到一个接近实际对应关系的曲线。
曲率半径的影响
涡流测厚仪使用的校对样板和校对时用的基底多为平面型,被测件表面往往不是平面,而是外圆面或内孔面。这样的弯曲表面对测量结果有很大的影响。这主要是由于改变了测头(线圈)和被测表面空气间隙。为此,使测头沿轴向母线测量,可以得到较满意的测量结果。但是,当曲率半径较小时,为提高测量结果的准确度,应当根据所用测头的具体情况,做必要的试验才成。在仲裁检测时,尤其应当如此。如我们为煤碳部验收德国进口的液压支架时,预先按被测件曲率半径尺寸作了校对件,使验收工作收到了满意的结果。
被测基底厚度的影响
校对仪器时采用的基底厚度多是较大的,而被测件的基底厚度一般变化较大。当被测件基底厚度大寸;IOmm时,其厚度变化对测量结果的影响可以忽略不计。当基底厚度小J二10mm时.其影响就不能忽略,特别是小于3mm时,其影响已可超出测量值的5%。因此,在测量较薄的工件时,必须用和被测基底厚度相当的基底校对仪器。这是因为,当工件较薄时,涡流效应大大降低,使测量结果的数值明显加大。为了解决上迷问题,可以将薄的被测件放在较厚的基底上测量。实践表明,这样作就可以避免涡流效应的影响
仪器介绍
镀层测厚仪Thick 600采用下照式结构，仪器操作简单，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求。
应用领域
铁基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基体－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
技术参数
1 分析元素范围：S-U
2 可分析多达3层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.02μm
4 多次测量重复性高可达0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 测量时间：30s-300s
6 计数率：1000-8000cps
7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。
仪器性能特点
1. 长效稳定X铜光管
2.半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3.采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
4.内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5.脉冲处理器，数据处理快速准确
6.手动开关样品腔，操作安全方便
7.三重安全保护模式
8.整体钢架结构、外型高贵时尚
9.FP软件，无标准样品时亦可测量
质量保证
1. 乙方对所出售本合同所规定的仪器进行终身维修；
2. 软件免费升级：如有软件升级，乙方将免费提供软件升级，不再收取升级费用；
3. 保修条款
3.1. 仪器设备自验收合格之日起免费保修1年；
3.2. 免费保修期内，维修相关费用全免；
4. 技术服务的响应期限：提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。
5. 由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。
天瑞镀层测厚仪使用注意事项
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（好使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能保证佳的测量效果。
为使仪器能长期保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。
被测部位的影响
试验表明,测量部位不同,测量结果的数值就不同,如靠近边缘处和棱角处,由于磁路截面减小,涡流效应降低,测量结果数值增大。所以,应当避免在靠近边缘和棱角处测量。
问：XRF镀层测厚仪的原理是什么?
答：1、原理：X射线照射样品，经过镀层界面，射线返回的信号发生突变，根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难（信号分不开）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。
功能：精密测量金属电镀层的厚度。
应用范围：测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。
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