公司新闻/NEWS
rohs光谱仪器@江苏天瑞新闻
阅读次数：524 发布时间：2020/1/14 9:57:55
rohs光谱仪器概述
ROHS检测仪器型号EDX1800B是在原EDX1800的基础上根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求，设计的更新换代产品。该产品应用新一代高功率高压电源和X光管，提高产品的可靠性；利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。性能特点
rohs无卤检测仪经典的下照式设计：可满足各种形状样品的测试需求包括固体，液体，粉末
准直器和滤光片：多达8种准直器和5种滤光片自动切换，满足不同样品材质和测试点的检测；
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点；
高分辨率探测器：提高分析的准确性；
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率。
技术参数
元素分析范围从硫（S）到铀（U） 分析检出限可达1ppm
分析含量一般为1ppm到99.99％
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
多次测量重复性可达0.1％（含量96％以上）
长期工作稳定性为0.1％（含量96％以上）
温度适应范围为15℃至30℃
电源：交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源 能量
分辨率：160±5eV
样品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
仪器尺寸：550mm×410mm×320mm
ROHS有害元素检测仪能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE，式中，K为入射射线的光子能量；性能特点rohs无卤检测仪经典的下照式设计：可满足各种形状样品的测试需求包括固体，液体，粉末准直器和滤光片：多达8种准直器和5种滤光片自动切换，满足不同样品材质和测试点的检测；
rohs无卤检测仪在仪器的检查和校准中发挥了重要作用。对于ROHS检测仪的选择，需要根据自身的行业来选择，针对ROHS检测仪的使用，今天小编简单的为大家介绍一下测试的基本流程。
针对测试铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯、多溴联苯醚这六项的痕量分析，初步筛选用X射线荧光光谱分析仪器可以对样品中铅、汞、镉、铬、溴这五种元素初步判定大致含量。
rohs无卤检测仪用ICP和AAS测试铅、镉、汞的含量,用GCMS测试多溴联苯、多溴联苯醚的含量,用紫外分光度计(点测试发/比色法)测试六价铬的含量 。
ROHS检测仪能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：Q=kE，式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；k为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特征信息。
ROHS检测仪待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。ROHS检测仪为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
产品名称：ROHS检测仪 型号：EDX1800B
ROHS指令概述
RoHS－－《关于在电子电气设备中限制使用某些有害物质指令》也称2002/95/EC指令，后以2005/618/EC决议进行补充
RoHS核心内容
投放欧盟市场的电子电气设备不得使用以下六种物质：铅 (Pb)、汞 (Hg)、镉 (Cd)、六价铬 (Cr6+)、 多溴联苯 (PBBs)、多溴二苯醚 (PBDEs)
执行时间：2006年7月1日
欧盟RoHS指令规定的物品中有害元素含量应小于或等于下表中相应元素的限量要求。
rohs无卤检测仪EDX1800B是天瑞仪器为应对ROHS指令研发设计的一款X荧光分析仪。
仪器原理
通过高压产生电子流打入X光管中靶材产生初级X光，经过过滤跟聚集摄入到被测样品中产生次级X光，也就是X荧光被探测器探测到后经放大，数模转换到计算机，
计算出我们要的结果。
仪器重量：45kg
仪器配置
铬中文别名：含铬色料的通称；金属铬；铬(微晶)；铬粉；铬粒；铬片；铬单晶片；铬溅射耙材
英文名称:Chromium(III) atomic absorption standard solution
铬(Chromium)，化学符号Cr，单质为钢灰色金属。元素名来自于希腊文，原意为“颜色”，因为铬的化合物都有颜色。1797年法国化学家沃克兰 (L.N.Vauquelin)在西伯利亚红铅矿（铬铅矿）中发现一种新矿物，次年用碳还原得到。铬在地壳中的含量为0.01%，居第17位。呈游离态的自然铬极其罕见，主要存在于铬铅矿中 。在元素周期表中属 ⅥB族， 铬的原子序数24，原子量51.9961，体心立方晶体，常见化合价为+2、+3和+6。氧化数为6, 5, 4, 3, 2, 1, ?1, ?2, ?4，是硬度的金属。
产品型号：EDX 4500H
产品名称：ROHS有害元素检测仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）
联系我们/CONTACT US
联系人：王经理
电 话：0512-50355615
手 机：15151668829
地 址：江苏苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号
邮 编：215300
传 真：0512-50355615
邮 箱：2661481387@qq.com
产品分类/CLASS
X射线镀层测厚仪
- 凹槽镀金膜厚仪
- X射线光谱测厚仪
- 汽车配件镀层测厚仪
- 铜上镀银X射线无损测厚仪
- LED支架镀层测厚仪
- X射线荧光无损电镀层膜厚测量测厚仪
- X射线镀锌层测厚仪
- x射线锌镍合金测厚仪
- 电镀XRF镀层测厚仪
- X荧光镀层分析仪
- 金属件镀层测厚仪
- 紧固件电镀镀层厚度检测仪器
- X射线镀金测厚仪
- 无损多层镀层测厚仪
- 电镀金镍测厚仪
- 金属镀层厚度检测仪
- ABS塑料镀铜镍金测厚仪
- 镀铜镍锌测厚仪
- x光镀层检测仪
- 磁性材料电镀层测厚仪
- 电镀层测厚仪
- 镀金层测厚仪
- 镀银层测厚仪
- 镀镍层测厚仪
- 镀锡层测厚仪
- X射线金属镀层测厚仪
- x荧光镀层测厚仪
- X荧光测厚仪
- 黄铜镀镍测厚仪
- X射线无损测厚仪
- X-RAY镀层测厚仪
- 镀银无损测厚仪
- x光镀层测厚仪
- x射线荧光镀层测厚仪
- x射线电镀测厚仪
- 铜排镀锡层测厚仪
- 电镀膜厚测试仪
- 表面镀层测厚仪
- 金属镀层测厚仪
- XRF镀层测厚仪
- x射线荧光测厚仪
- 光谱镀层测厚仪
总访问量：2153065 
天瑞仪器
