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X射线荧光膜厚仪
阅读次数：518 发布时间：2021/1/30 14:57:17
X射线荧光膜厚仪工作环境温度为15~30℃。
绩效优势
、精密三维移动平台。
二是优秀的样本观察系统。
三、高图像识别。
四、容易实现深部槽样检测。
四种微孔聚焦准直仪，可自动切换。
6.采取双重保护措施，无缝防撞。
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高检测效率。
智能全自动控制方式，键操作！
开关自动自检，复位；
打开盖子，自动离开试样台，提升Z轴试验台，便于放样；
关闭盖式推进样机，下降Z轴测试平台，自动完成聚焦；
在全景或局部景图像上直接点击选择测试点；
单击测试界面的测试按钮，测试自动完成并结果显示。
介绍产品。
X射线荧光膜厚仪主要用于对Sn/Fe(基材)、Zn/Cu(基材)、Ni/Cu(基材)、Cr/Ni/Fe(基材)、Au/Ni/Cu(基材)等数十种电镀工艺的金属镀层进行厚度测量，具有测量高、简便、快速、无损等特点，天瑞仪器是X射线荧光膜厚仪的制造商，分析仪器上市公司。
Thick8000X射线荧光膜厚仪是种新型的高端仪器，是为测量镀层厚度而精心设计的。本发明主要用于：金属镀层厚度的测定，电镀液及镀层含量的测定，金，铂，银等贵金属及各种饰的含量的测定。
技术性指标
硫(S)~铀(U)的分析元素范围
元素同时检测：24个元素多达5层镀层。
测定含量：般在2ppm至99.9%
涂层厚度：般不超过50微米(每种材料不同)
SDD探测器：分辨率为135eV。
微孔准直技术：小孔直径可达0.1mm，小孔直径0.1mm。
样机观测：配有全景和局部工业高清摄像机。
准直器：由四种准直器组成：0.3×0.05mm，Ф0.1mm,0.2mm和0.3mm。
仪表尺寸：690(W)x575(D)x660(H)mm。
样箱尺寸：520(W)x395(D)x150(H)mm。
样机尺寸：393(W)x258(D)mm。
平台移动速度：X/Y/Z：额定速度200mm/s，速度333.3mm/s。
XY/Z平台重复定位：小于0.1um。
工作环境湿度：≤90%
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