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X射线镀层膜厚仪
阅读次数：525 发布时间：2021/1/30 15:46:07
X射线镀层膜厚仪产品介绍。
X射线镀层膜厚仪是种无损检测金属镀层厚度的仪器，采用的三维测试平台，多点测试，对微小产品进行精确分析，天瑞仪器THICK8000X射线镀层膜厚仪打破国外垄断，成为国内独无二的品牌企业。
X-射线镀层厚度测定仪技术指标
放射源激发源：5OKV/1000μA-钨靶X光管和高压电源。
检测器和分辨率：SDD检测器分辨率140±5eV。
原子序数16(S)~92(U)的分析元素范围
测定元素和层数：可同时测定24种元素和5层镀层。
测厚范围：测厚般不超过50微米。
检测限度：镀层金属元素的厚度可以达到0.005μm。
位置：0.001毫米。
量程：10s或更长。
试样移动范围：120mm×120mm。
试样提升平台移动高度：0~150mm。
要求工作环境。
运行功率：220±5V。
周边无强烈电磁干扰。
所需的环境温度：15~30℃。
湿度环境：<70%
X-射线镀层厚度测定仪的性能优势。
、精密三维移动平台。
二是优秀的样本观察系统。
三、高图像识别。
四、容易实现深部槽样检测。
四种微孔聚焦准直仪，可自动切换。
6.采取双重保护措施，无缝防撞。
7.采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高检测效率。
智能全自动控制方式，键操作！
开关自动自检，复位；
打开盖子，自动离开试样台，提升Z轴试验台，便于放样；
关闭盖式推进样机，下降Z轴测试平台，自动完成聚焦；
X-射线镀层厚度测定仪的售后服务。
技术服务响应时间：接到用户故障信息后，24小时内做出响应，12~72小时内派人上门维修，必要时派人上门维修，排除故障。
联系我们/CONTACT US
联系人：王经理
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