螺栓螺母镀层测厚仪型号:Thick800A。
螺栓螺母镀层测厚仪硫(S)到铀(U),用螺栓螺母进行厚度测定。
可同时分析30多种元素,镀有五层。
测定含量通常在ppm至99.9%。
锚杆螺帽厚度测厚仪的镀层厚度般在50微米以内(每种材料不同)
有多种可选的分析与识别模式。
互不相关的基体效应修正模型
多元非线性回收器。
该温度范围为15~30℃。
电力供应:交流220V±5V,建议配有交流净化稳定电源。
外形尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm。
样箱尺寸:500(W)×350(D)×140(H)毫米。
体重:90千克。
螺旋帽即为螺帽,它与螺栓或螺杆起拧紧用于紧固零件,所有生产和加工机械所需的元件按其材质可分为碳钢、不锈钢、有色金属(例如铜)等几种类型。
金属镀层的检测已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,也是产品达到佳质量水平的重要手段。为了实现产品的化,我国出口的商品和国外的工程都对镀层的厚度有明确的要求。
对镀层厚度的测量方法主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁感应法和涡流法等。其中,有五种是有损检测,其测量方法繁琐、速度慢,多适用于抽样检测。
天瑞
仪器螺母镀层厚度测试仪是用X射线照射样品,然后由样品反射出的二次X射线的强度来测量。测测镀膜和其他金属膜的厚度,因为没有接触样品,并且X射线照射在样品上只有45-75W,所以不会对样品造成损害。与此同时,所测量的可以在10到几分钟内完成。
螺旋母镀层厚度计测量值的影响因素
1.有关影响因素的描述。
(a)基体金属磁性。
磁法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,可认为低碳钢的磁性变化较小),为避免热处理、冷加工等因素的影响,仪器的标定应采用与基体金属具有相同性能的标准片;也可采用待涂覆试件进行标定。
B基体金属的电性。
金属基材的电导率对测量有影响,金属基材的电导率与材料组成和热处理方法有关。用性能和样品基质金属相同的标准片来校准仪器。
C基底金属厚度。
每种仪器都有个基底金属的临界厚度。超过这厚度,测量值不受基材厚度的影响。表1显示了该仪器的临界厚度值。
边沿效应。
该仪器对样品表面形状变化很敏感。结果表明,靠近试件边缘或内角进行测量不可靠。
E曲率
样品的曲度对测量有影响。随着曲率半径的减小,这个效应总是明显地增大。所以,在试件弯曲表面进行测量是不可靠的。
(f)试验变形。
头部将使软覆层试件发生变形,从而在这些试件上得到可靠的测试数据。
不均匀表面粗糙度
衬底金属及覆盖层的粗糙度影响测量结果。粗糙度增大,影响增大。粗面会产生系统误差和偶然误差,要克服这些偶然误差,必须在每次测量时,在不同位置增加测量次数。若基体金属粗糙,还必须在无涂层的粗糙度相似的基体金属试件上取几个位置来校正仪器的零点,或者用对基体金属无腐蚀的溶液溶解去除该覆盖物后,再校正仪器的零点。
g磁场
各类电器设备周围产生的强磁场,将严重干扰磁法测厚工作。
粘附物质。
该仪器对阻碍测头与包皮表面紧密接触的粘附物质敏感,因此必须将粘附物质清除,以确保仪器测头与被测物体表面直接接触。
根探针压力。
将测头放置在试件上所施加的压力的大小将影响测量读数,因此,应保持压力不变。
J.探头的定向。
头部放置方式对测量结果有影响。测试时,测头应与样品表面保持垂直。
二、使用仪器应遵守之规定。
A基质金属性质。
在磁化法中,标准片基体金属的磁性能和表面粗糙度应类似于试样基体金属的磁性能和表面粗糙度。
用涡流法测定标准片基金属的电特性,其电特性应类似于样品基体金属。
(b)金属厚度。
检验基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有超过,可以用3.3中提供的某种方法来校准。
C边效应
试件边缘、孔和内转角等位置上的突变不应被测量到。
双曲线曲线
不得在试件弯曲表面进行测量。
“e”阅读次数。
般情况下,因为仪器的每次读数都不样,所以必须在每个被测区域内进行多次读数。地膜厚度的局部差异性,在任意给定区域内也需要多次测量,表面粗糙度更应如此。
(f)表面清洁。
在测量之,表面的任何附着物,如灰尘,油脂和腐蚀性产品,都应该清除掉,但不要去除任何覆盖物。
标准化配置
开放的试样室。
高精度二维移动采样平台,探测器和X光管上下移动实现三维移动。
螺旋帽镀层厚度测试仪双激光定位装置。
铅质玻璃罩
西-潘探测器
讯号探测电子电路
高、低压电源
X-光管
高感应器
防护传感器
电脑和喷墨打印机。
制造商简介
自1992年成立以来,天瑞仪器从研制、生产、销售X荧光光谱分析仪开始,目主要从事光谱仪、色谱仪、质谱仪等高端分析仪器的研发、生产、销售及应用软件的技术服务,现已成为国内分析仪器龙头企业。本公司产品主要用于环保安全(空气、土壤、水质污染检测等)、矿产和资源(地质、采矿)、商品检验,甚至人体微量元素检测等诸多域。