产品展示/PRODUCTS SHOW
国产X荧光测厚仪
国产X荧光测厚仪智能型Thick 800A采用的是业内的SDD半导体电制冷探测器，分辨率可达140eV,可以很好的区分相邻元素谱峰。
高精度移动平台可定位测试点，平台电机重复定位精度小于0.005mm；移动平台可通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点。
国产X荧光测厚仪通过特制滤波片可以降低X荧光的吸收与增强作用，减小背景散射，提高对*薄金属元素的检出限（可以达到0.005um），实现*薄金属镀层厚度分析。
多种准直孔可供选择——准直孔：0.05*0.3mm；Ф0.1mm；Ф0.2mm；Ф0.3mm；Ф0.5mm
定位——样品可快速定位
国产X荧光测厚仪采用高度自动定位激光，可快速定位测试高度，以满足不同尺寸的镀层测试
高精度移动平台可定位测试点，平台电机重复定位精度小于0.005mm；移动平台可通过测试软件可视化操作：鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点。
国产X荧光测厚仪工作曲线界面加入备注名称可编辑，并可以显示在主界面曲线界面，对英文元素做备注说明，方便客户区分，界面对客户*加友好
自动生成测试报告，测试历史数据查看、检索等
行业解决方案，如精密部件钕铁硼镀镍镀铜再镀镍，电泳漆测厚度，铝塑膜测试镀铝的厚度等
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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