产品展示/PRODUCTS SHOW
性能指标
铜排镀银金属镀层测厚仪分析方法：能量色散X荧光分析方法
测量元素范围：镁（Mg）到铀（U）之间的元素均可测量
同时检测元素：数几十种元素可同时分析
处理器和内存：CPU：667MHz,内存：256M，扩展存储支持32G，标配2G，可以海量存储数据。
含量范围：ppm～
检测时间：3-30
GPS、WIFI：内置系统
用时间：可充电锂电池，电池电量7800mAH,可持续工作8小时；配有宽电压110V-220V通用适配器，可交流供电使用。
检测对象：固体、液体、粉末
探测器：25mm2 0.3mil，SDD探测器
探测器分辨率：可达139eV
激发源：50KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管
准直器和滤光片：直径4.0和2.0mm准直器，6种滤光片组合自动切换，12种组合，上多的组合方式，可满足各种类样品的测试
检测对象：固体、液体、粉末
视频系统：高清晰摄像头
显示屏：半透半反式液晶显示触摸屏，其分辨率是640*480
检出限：检出限达ppm
铜排镀银金属镀层测厚仪检测窗口：12mm
安全性：自带密码管理员模式，数据可随意保存
可充气系统：常压充氦气系统
：数字多道技术，SPI，快速分析，高计数率；
防水迷你USB，并且可以外接台式电脑。
操作环境湿度：≤
操作环境温度：-20℃～+50℃
仪器外形尺寸：234×306×82mm（L×H×W）
仪器重量：1.9Kg（配备电池），1.6Kg（无电池）新一代Genius XRF手持式X射线镀银层测厚仪是门针对在现场，野外进行X荧光分析的应用而设计，具有体积小，重量轻，普通人可手持测量的特点；产品超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点，并在小型X射线仪上引入了数字多道技术，使仪器检出限更好，稳定性更高，适用面更广。
性能优势
性能堪比台式机
铜排镀银金属镀层测厚仪小功率端窗一体化微型光管、大面积窗SDD硅漂移探测器（上的探测器）及微型数字信号多道处理器三大技术的引入，大幅降低测试时间、提高检测、减少测试误差，使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。
小巧便携、操作快捷
体积很小，便携、方便野外工作。随时随地，随心所欲的现场分析和原位分析。
无损检测
整个检测过程被测样品无任何损坏
检测
手持式X射线镀银层测厚仪仪器既可手持1-2对样品进行快速测试，也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试，10即可进行接近实验室的测量。
新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪（手持式镀银层测厚仪），增加了可充气系统，可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素，大大扩展测试元素范围，满足特定客户轻元素检测需求。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品，可直接在待测物表面进行测定，可分析任何样品类型，包括电子电器产品、镀层厚度、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
高清摄像头检测更加
内置高清晰摄像头，可以随时观察被测样品的测试位置，这一点情况在RoHS、地矿样品中犹为重要。
偏差校正轻松到位
多种测试模式设置及无限数目模式的自由添加，配合自动测试模式匹配功能，实现一键式轻松测试。内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
软件，操作简易
有害元素分析仪，合金分析仪，矿石分析仪，土壤重金属分析仪均配置的应用软件。的软件界面和内核，将FP和EC软件相结合，应用面更广大。灵敏度高、测试时间短、操作简易，对操作人员限制很小的特点。
准直滤光片，三倍功效提升
在准直滤光片组合基础上，从原有4组增加到12组的,提升了三倍。
更加高速
采用嵌入式Windows CE系统，高显示分辨率（640*480）液晶显示触摸屏，结合数字多道技术，采用SPI，提升能力与数据运算能力。在任何环境中，测试数据都尽在掌中。
辐射防护、关爱健康
三重安全防护功能，自动感应，具有无样品空测，2自动关X光管功能；工作时的辐射水平远安全标准，无射线泄漏；加厚防护测试壁；配送测试防护安全罩。
仪器自身具备防水防尘功能，并可在高温高湿环境下连续使用，其保护箱采用高强度用品，有良好的防潮防震防压三防功能。手持式X射线镀银层测厚仪产品包括有害元素分析仪，合金镀层分析仪，矿石分析仪，土壤重金属分析仪，XRF等一系列型号，可充分满足从原料检测，生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析，金属材料的性鉴别和合号快速识别，土壤重金属现场检测，各类地质矿样的野外原位多元素分析等市场需求。
该系列产品通过严格检测和验证，各项指标均符合相关技术要求，技术达水平。产品已开始批量销售于国内外市场，受到客户的好评，国外厂家的。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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