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天瑞rohs分析仪厂家

天瑞rohs分析仪厂家
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价格: 138000

型号:EDX1800B

采购度:155    原产地:中国大陆

发布时间:2024/9/25     更新时间:2024/11/12

产品简介:天瑞rohs分析仪厂家工作原理是由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线(一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后,仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。

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详细信息


光谱ROHS检测仪设备
**RoHS指令和WEEE指令
2003年2月13日,欧盟公布了《关于报废电子电气设备的指令》(2002/96/EC,简称WEEE)和《关于电子 电气设备中限制使用某些有害物质的指令》(2002/95/EC,简称RoHS),规定从2005年8月13日起实施WE EE的生 产者责任,从2006年7月1日起在相关电子电器中禁止使用六种有害物质。有害物质元素 Cd Pb Hg Cr6+ PBBS PBDES  Cl Cl+Br
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天瑞rohs分析仪厂家相关基础术语知识
1.精密度
定义为同一样品多次测定的平均值m和各次测定值mi之差。换句话说,精密度是重现性(Reproducibility或Repeatability)。X荧光分析 的精度是和测量的时间有关的,测量的时间越长,则精度越高。
2.重复性
定义为仪器测同一款样品的连续测试十一次或二十一次的相对标准偏差。
3.准确度
定义为各次测定值mi对于真值(t)的偏差。因而,若精密度差,准确度也一定差。反之,准确度很差,精密度确有时很高。这是因为有时可能有系统误差的存在。要想**性(Reliability)好,精密度和准确度都要求高。
4.误差
X荧光分析的误差往往是很难计算的,所以,通常情况下,把统计涨落引起的误差作为测量的误差。
5.检出限(Limit of detection)
当获得背景强度标准偏差三倍以上的峰值强度时的元素含量,称为检出限(或叫检出限)。这时候,测到的含量的置信度(可信的程度)是99.87%.测定检出,一般要用含量比较低的样品来测量。检出限因所用试样(基体)的不同而不同。
6.计数统计误差
在放射性物质的测量中,设仪器稳定性、机械在现性可确保,由仪器机械产生的误差可以忽略不计,但计数统计误差还是不能。X射线强度是把入射到计数器上的光子变成脉冲后计数而得到的。因而计数值在本质上具有统计误差。 被测X射线的计数值(N)的分布属于随机事件,其标准偏差由 N求出。 N叫统计误差。时间越长,则相对偏差越小,即精度越高。
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天瑞rohs分析仪厂家标准配置
移动样品平台
电制冷Si-PIN探测器
ROHS检测仪信号检测电子电路
高低压电源
大功率X光管
计算机及喷墨打印机
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天瑞rohs分析仪厂家基本工作原理

塑胶ROHS检测设备厂家是公认的RoHS筛选仪器,由于其速度、分辨率高、实施无损检测,所以被广泛采用。荧光光谱仪繁多,以至于分不出谁好谁差了。在《电子信息产品有毒有害物质的检测方法》IEC62321标准文本里提到:“用能量散射X射线荧光光谱法(ED-XRF)或波长散射X射线荧光光谱法(WD-XRF)对试样中目标物进行测试,可以是直接测量样品(不破坏样品),也可以是破坏样品使其达到”均匀材料”(机械破坏试样)后测试。”能真正准确无误地将试样筛选出合格、不合格、不确定三种类型,而且能限度地缩小“不确定”部分是好仪器。在*既定准确度的情况下尽可能*检测。尤其是企业选购,光谱仪是做日常RoHS监督检测用,非常看重这一点。所以,能够准确无误地将试样筛选出合格、不合格、不确定三种类型,又能限度地缩小“不确定”部分,而且全部过程是在短的时间内完成的X射线荧光光谱仪是满足使用要求的光谱仪

江苏天瑞仪器股份有限公司生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售的一体型企业。公司于2011年1月25日在深圳创业板上市,成为分析测试仪器行业的一家上市公司。天瑞仪器是具有RoHS环保测试仪|RoHS2.0检测仪|邻苯测试仪|XRF|卤素仪|重金属测试仪|XRF|金属镀层测厚仪|金镍厚测试仪|金属元素分析仪|便携式测试仪|天瑞EDX1800B|天瑞镀层膜厚仪|天瑞EDX1800E|天瑞rohs测试天瑞ROHS有害元素分析仪|ROHS无卤元素分析仪|气相色谱|相色谱|子吸收光谱|X射线荧光光谱仪|光电直读光谱仪|ICP光谱仪|金属多元素分析仪|碳硫分析仪|X荧光测厚仪ROHS仪器、无卤分析仪、REACH分析仪、增塑剂检测仪等仪器的生产销售,
工作原理
天瑞rohs分析仪厂家工作原理是由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X 射线(一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后,仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理,测试出待测产品的元素含量。

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原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司.

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