产品展示/PRODUCTS SHOW
电镀层测厚仪
分享到：
详细信息
产品优势
电镀层测厚仪样品处理方法简单或无处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务
针对表面平整规则样品分析测试；
可根据样品大小手动更换不同规格准直器；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品定量分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
手动开关样品腔，操作安方便。
能量线性好
能量分辨率高，分辨率在160±5ev
时间响应快，时间分辨好
窗口材料薄
灵敏区厚度可调
结构简单，体积小，重量轻
对磁场不灵敏
工作原理
电镀层测厚仪工作原理是X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。，测量镀层范围广，适合细微面积及超薄镀层的测量。
标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
满足标准
铁基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni，
铜基－－－－□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au塑胶基体－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞XRF荧光测厚仪多可以测6层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底材元素含量不致的，则需要进行基材修正，选用样品所相似的底材进行曲线标定 。
片面追求度 每当谈到仪器性能，往往会自然而然地把结果是否作为判断标准，而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”，常见的就是与化学分析“对结果”。性固然重要，但作为工业分析而言，精密度决不可忽视，先要关注的是精密度问题，也就是说，同样品多次测量，其结果应有良好的致性，每测量结果与均值的差要足够小，至于测量值与真值的差，往往属于系统偏差，是可以进行数学校正的。
不重视稳定性和重现性 所谓稳定性是指同样品连续测量多次（通常为21次）的标准偏差，而重现性则是同样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标，工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整，分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的测量是建立在稳定性和重复性之上的。
分析时间越短越好 X射线测量是随机事件的统计测量，是由统计规律决定的，计数的量取决于测量时间，并直接决定着测量误差的大小，足够长的测量时间是测量精度的提条件，为了测量精度，必须有足够的测量时间。
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（好使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能佳的测量效果。
为使仪器能保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。
镀层作用及分类
镀层的组合形式可分为三类。类是简单结构，在基体金属上只镀单层镀层，这是简单的形式，如钢铁上镀锌、镍等。二类是组合镀层。这是由几层相同金属(如暗镍、半光亮镍、光亮镍)或不同金属(如铜、镍、铬)层叠加而成的多层镀层;三类是复合镀层。这种由固体微粒(在镀液中不溶的无机或有机物质)均匀地分散在金属中而形成的镀层(如Ni—sZc，cu—AhO;等)，具有高耐磨、高耐蚀性能，在功能材料和结构材料的开发应用中，有很重要的意义。
银镀层 银镀层对于常用金属为阴镀层，其导电、焊钎性能优良，化学性质稳定，主要用于电器工业中的导电部件及其焊接部位，还用于防护-装饰性镀层，如乐器、餐具、光学仪器及工艺品。
镍镀层 镍镀层对钢铁零件为阴性镀层，它具有较高的硬度，抗蚀性比铜高，能耐碱，也比较能耐酸。常用于钢铁零件的镀铜/镍/铬防护-装饰性镀层的中间层及酸性镀铜的预镀。
铜镀层 铜镀层对锌、铁等金属为阴性镀层，常常用于钢铁或某些塑料上作为镀铜/镍防护-装饰性镀层的底层或中间层，也可用于印刷电路、电铸模等方面。
产品特点
1. 稳定X铜光管
2.半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3.采用天瑞仪器利产品—信噪比增强器（SNE）
4.内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5.脉冲处理器，数据处理快速
6.手动开关样品腔，操作安方便
7.三重安保护模式
8.整体钢架结构、外型高贵时尚
9.FP软件，无标准样品时亦可测量
参数规格
1分析元素范围：S-U
2电镀层测厚仪可分析多达3层以上镀层
3分析厚度检出限达0.02μm
4多次测量重复性可达0.05μm
5定位精度：0.5mm
6测量时间：30s-300s
7计数率：1000-8000cps
8仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。
电镀层测厚仪样品处理方法简单或无处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务
针对表面平整规则样品分析测试；
可根据样品大小手动更换不同规格准直器；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品定量分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
手动开关样品腔，操作安方便。
能量线性好
能量分辨率高，分辨率在160±5ev
时间响应快，时间分辨好
窗口材料薄
灵敏区厚度可调
结构简单，体积小，重量轻
对磁场不灵敏
工作原理
电镀层测厚仪工作原理是X射线射到电镀层表面，产生X射线荧光，根据荧光谱线元素能量位置及其强度确定镀层组成及厚度。，测量镀层范围广，适合细微面积及超薄镀层的测量。
标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
满足标准
铁基－－－－□Fe/Zn, □Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni，
铜基－－－－□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au塑胶基体－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序，天瑞XRF荧光测厚仪多可以测6层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定，确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质，比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的，并且同标准片底材元素含量不致的，则需要进行基材修正，选用样品所相似的底材进行曲线标定 。
片面追求度 每当谈到仪器性能，往往会自然而然地把结果是否作为判断标准，而且在日常应用中也会把大量的精力用于判断仪器“准不准”，常见的就是与化学分析“对结果”。性固然重要，但作为工业分析而言，精密度决不可忽视，先要关注的是精密度问题，也就是说，同样品多次测量，其结果应有良好的致性，每测量结果与均值的差要足够小，至于测量值与真值的差，往往属于系统偏差，是可以进行数学校正的。
不重视稳定性和重现性 所谓稳定性是指同样品连续测量多次（通常为21次）的标准偏差，而重现性则是同样品间隔较长时间后再次测量的结果之间的致性。这两项指标是作为工业分析仪器的关键指标，工业分析的结果主要是用于生产过程的控制和参数调整，分析结果的相对变化直接关系着过程控制和调节。而相对变化的测量是建立在稳定性和重复性之上的。
分析时间越短越好 X射线测量是随机事件的统计测量，是由统计规律决定的，计数的量取决于测量时间，并直接决定着测量误差的大小，足够长的测量时间是测量精度的提条件，为了测量精度，必须有足够的测量时间。
开启仪器电源开关时，动作要慢、不可用力过猛、以免损坏按键。
向样品腔放置样品时，要注意样品的洁净，不可使尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏；同时，还要注意轻拿轻放（好使用镊子等器具取放样品），以免测量窗口的薄膜被破坏。
样品盖需要经常用酒精棉球清洁。
每次开机后，仪器都必须先预热30分钟，然后进行初始化，方可进行正常的检测工作。
测量不同类型的样品时，需从程序栏中选择其对应的选项，才能佳的测量效果。
为使仪器能保持工作正常，需定期对仪器的各项参数进行测试，并进行调整。
镀层作用及分类
镀层的组合形式可分为三类。类是简单结构，在基体金属上只镀单层镀层，这是简单的形式，如钢铁上镀锌、镍等。二类是组合镀层。这是由几层相同金属(如暗镍、半光亮镍、光亮镍)或不同金属(如铜、镍、铬)层叠加而成的多层镀层;三类是复合镀层。这种由固体微粒(在镀液中不溶的无机或有机物质)均匀地分散在金属中而形成的镀层(如Ni—sZc，cu—AhO;等)，具有高耐磨、高耐蚀性能，在功能材料和结构材料的开发应用中，有很重要的意义。
银镀层 银镀层对于常用金属为阴镀层，其导电、焊钎性能优良，化学性质稳定，主要用于电器工业中的导电部件及其焊接部位，还用于防护-装饰性镀层，如乐器、餐具、光学仪器及工艺品。
镍镀层 镍镀层对钢铁零件为阴性镀层，它具有较高的硬度，抗蚀性比铜高，能耐碱，也比较能耐酸。常用于钢铁零件的镀铜/镍/铬防护-装饰性镀层的中间层及酸性镀铜的预镀。
铜镀层 铜镀层对锌、铁等金属为阴性镀层，常常用于钢铁或某些塑料上作为镀铜/镍防护-装饰性镀层的底层或中间层，也可用于印刷电路、电铸模等方面。
产品特点
1. 稳定X铜光管
2.半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3.采用天瑞仪器利产品—信噪比增强器（SNE）
4.内置高清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5.脉冲处理器，数据处理快速
6.手动开关样品腔，操作安方便
7.三重安保护模式
8.整体钢架结构、外型高贵时尚
9.FP软件，无标准样品时亦可测量
参数规格
1分析元素范围：S-U
2电镀层测厚仪可分析多达3层以上镀层
3分析厚度检出限达0.02μm
4多次测量重复性可达0.05μm
5定位精度：0.5mm
6测量时间：30s-300s
7计数率：1000-8000cps
8仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
在线留言/MESSAGE
在线咨询，尊敬的客户您好，我们会尽快回复您的咨询！
| 您感兴趣的产品* | 您还没有输入您感兴趣的产品 | |
| 您的单位* | 您还没有输入您的单位 | |
| 联系人* | 您还没有输入联系人 | |
| 联系电话* | 您还没有输入联系电话 | |
| 详细地址 | ||
| 常用邮箱* | 您输入的邮箱格式不正确 | |
| 请输入您对我们的意见或建议* | 您还没有输入您对我们的意见或建议 | |
| 验证码* | 您还没有输入验证码 |
温馨提示
1.遵守中华人民共和国有关法律、法规，尊重网上道德，承担一切因您的行为而直接或间接引起的法律责任。
2.请您真实的反映产品的情况,不要捏造、诬蔑、造谣。如对产品有任何疑问,也可以留言咨询。
3.未经本站同意，任何人不得利用本留言簿发布个人或团体的具有广告性质的信息或类似言论。
相关文章/ARTICLES
相关产品/PRODUCTS
联系我们/CONTACT US
联系人：王经理
电 话：0512-50355615
手 机：15151668829
地 址：江苏苏州市昆山市玉山镇中华园西路1888号
邮 编：215300
传 真：0512-50355615
邮 箱：2661481387@qq.com
产品分类/CLASS
X射线镀层测厚仪
- 凹槽镀金膜厚仪
- X射线光谱测厚仪
- 汽车配件镀层测厚仪
- 铜上镀银X射线无损测厚仪
- LED支架镀层测厚仪
- X射线荧光无损电镀层膜厚测量测厚仪
- X射线镀锌层测厚仪
- x射线锌镍合金测厚仪
- 电镀XRF镀层测厚仪
- X荧光镀层分析仪
- 金属件镀层测厚仪
- 紧固件电镀镀层厚度检测仪器
- X射线镀金测厚仪
- 无损多层镀层测厚仪
- 电镀金镍测厚仪
- 金属镀层厚度检测仪
- ABS塑料镀铜镍金测厚仪
- 镀铜镍锌测厚仪
- x光镀层检测仪
- 磁性材料电镀层测厚仪
- 电镀层测厚仪
- 镀金层测厚仪
- 镀银层测厚仪
- 镀镍层测厚仪
- 镀锡层测厚仪
- X射线金属镀层测厚仪
- x荧光镀层测厚仪
- X荧光测厚仪
- 黄铜镀镍测厚仪
- X射线无损测厚仪
- X-RAY镀层测厚仪
- 镀银无损测厚仪
- x光镀层测厚仪
- x射线荧光镀层测厚仪
- x射线电镀测厚仪
- 铜排镀锡层测厚仪
- 电镀膜厚测试仪
- 表面镀层测厚仪
- 金属镀层测厚仪
- XRF镀层测厚仪
- x射线荧光测厚仪
- 光谱镀层测厚仪
总访问量：2151232 
天瑞仪器
