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铜上镀银X射线无损测厚仪
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详细信息
性能优势
1.铜上镀银X射线无损测厚仪 精密的三维移动平台 2.的样品观测系统 3.的图像识别 4.轻松实现深槽样品的检测 5.四种微孔聚焦准直器，自动切换 6.双重保护措施，实现无缝防撞 7.采用大面积高分辨率探测器，降低检出限，提高测试精度 自动智能控制方式，键式操作!开机自动自检、复位； 开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样； 关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦； 直接点击景或局部景图像选取测试点； 点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示结果。
应用域
铜上镀银X射线无损测厚仪测量线路板工业中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的镀层电子行业中接插件和触点上的镀层装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe测量电镀液中金属成分含量黄金，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。镀层膜厚测厚仪主要用于贵金属加工和饰加工行业；银行，饰销售和检测机构；LED照明、五金工具、半导体、电镀企业等。
产品名称
Thick 8000铜上镀银X射线无损测厚仪 是门针对镀层厚度测量而精心设计的款新型仪器。主要应用于：金属镀层（镀金、镀镍、镀锌）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；黄金、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。 天瑞铜上镀银X射线无损测厚仪 适合用于电镀加工企业，手机制造商，五金厂，高压开关企业，电力企业，家电网，军工企业，汽车零部件，PCB线路板，手机连接线，电脑配件，饰加工等行业
技术指标
重复性：可达0.1%稳定性：可达0.1%SDD探测器：分辨率低至135eV分析元素范围：硫（S）～铀（U） 同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层 检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm分析含量：般为2ppm到99.9% 镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm样品观察：配备景和局部两个工业高清摄像头 准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mmX/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 高速度333.3mm/sX/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um操作环境湿度：≤90%操作环境温度：15℃～30℃
公司介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司已拥有遍布的三十多个技术服务网点和球100多家代理机构，我们的服务遍布球每个角落。公司成立业的客户服务中心，免费服务热线，即时快速的解决客户问题，4小时响应，24小时上门服务。
江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗下拥有北京邦鑫伟业技术开发有限公司和深圳市天瑞仪器有限公司两家资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司业从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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