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X荧光分析仪技术参数和性能配置介绍，江苏天瑞仪器股份有限公司提供生产的X荧光分析仪EDX3600B是利用XRF技术解决复杂物质如水泥、钢铁、有色金属、合成材料等中的元素含量的快速、分析。
X射线荧光分析仪的主要特征是利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，了仪器工作的*性。
X射线荧光分析仪的主要特征是利用低能X光激发待测元素，对Si、S、Al、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率：采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；采用自动稳谱装置，了仪器工作的*性。性能特点
业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
内置信噪比增强器可提高仪器信号处理能力25倍。
针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。
技术指标
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—99.99%
同时分析元素：24种元素同时分析
功能范围：水泥、钢铁、矿料等全元素分析
分析精度：0.05% （对含量96%以上元素）
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司.
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