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X萤光膜厚仪器

X萤光膜厚仪器
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价格: 186000

型号:THICK800A

采购度:151    原产地:中国大陆

发布时间:2024/8/6     更新时间:2024/9/18

产品简介:定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
X萤光膜厚仪器鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用

在线询价咨询电话:0512-50355615

标签:X萤光膜厚仪器   

详细信息


 可伐合金镀镍镀铬测厚仪

X萤光膜厚仪器产品特点

样品处理方法简单或无处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
X萤光膜厚仪器不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保
可伐合金镀镍镀铬测厚仪
应用优势
X萤光膜厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
软件可分析5层25种元素镀层;
通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
X萤光膜厚仪配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;
内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
可伐合金镀镍镀铬测厚仪
技术指标
X萤光膜厚仪器型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
X萤光膜厚仪器任意多个可选择的分析和识别模型。
相互立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

 

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性能特点
X萤光膜厚仪器满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可测试点
X萤光膜厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
X萤光膜厚仪器鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用
测试口传感器保护江苏天瑞仪器股份有限公司生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售的一体型企业。公司于2011年1月25日在深圳创业板上市,成为分析测试仪器行业的一家上市公司。天瑞仪器是具有RoHS环保测试仪|RoHS2.0检测仪|邻苯测试仪|XRF|卤素仪|重金属测试仪|XRF|金属镀层测厚仪|金镍厚测试仪|便携式测试仪|天瑞EDX1800B|天瑞镀层膜厚仪|天瑞EDX1800E|天瑞rohs测试天瑞ROHS有害元素分析仪|ROHS无卤元素分析仪|气相色谱|相色谱|子吸收光谱|光电直读光谱仪|ICP光谱仪|金属多元素分析仪|碳硫分析仪|X荧光测厚仪ROHS仪器、无卤分析仪、REACH分析仪、增塑剂检测仪等仪器的生产销售。

 

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原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司.

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