产品简介
EDX 3600K X荧光矿石元素分析仪大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到际水平。X荧光矿石元素分析仪属于的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础,结合外相关新的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的EDX 3600K型X荧光矿石元素分析仪。
X射线源:50KV、1mA
样品腔体积:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:原子序数为9~92[氟(F)到铀(U)]之间的元素均可测量
检测元素:同时分析元素达三十多种,可根据客户需要增加元素
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:10以上
检测对象:标准粉未压片及可以放入标准样品杯的固体、液体及粉末
探测器及分辨率:超大超薄的SDD探测器,分辨率 为144±5eV,可选配速探测器低至125eV
激发源:铑靶或钨靶光管根据客户需求可供选择
摄像头:高清摄像头
测井环境:超真空系统,10可抽到10Pa以下,大气、氦气均可以
准直器和滤光片:四组准直器(7、5、3、1mm),6种滤光片组合自动切换
自旋装置:可调速的自旋装置
检出限:对样品中的大多数元素来说,低检出限达5~500ppm
真空系统:超真空系统,10可到10Pa
数据传输:数字多道技术,快速分析,高计数率
测试台:360°电动旋转式
保护系统:样品腔为电动控制,上盖打开时测试已完成
样品放置:独特的样品杯设计,自带压环,可防止样品晃动
数字多道技术:计数率>50kcps,计数率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:15℃~30℃
采用公司新的能谱EDXRF软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作,操作简易,对操作人员限制小的特点。
具有多种测试模式设置和无限数目模式自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
新的软件界面和内核,采用FP和EC软件组合的方法,应用面更加广泛。属于的分析检测仪器,随着半导体微电子技术和计算机技术的飞速发展,传统的光学、热学、电化学、色谱、波谱类分析技术都已从经典的化学精密机械电子学结构、实验室内人工操作应用模式,转化成光、机、电、算(计算机)体化、自动化的结构,并向智能化、小型化、在线式及仪器联用方向发展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X荧光光谱仪技术为基础,结合外相关新的技术发展成果,研制出具有自主知识产权的EDX 3600KX荧光矿石元素分析仪。 EDX 3600KX荧光矿石元素分析仪大的亮点在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探测器和自旋式的样品腔,产品通过了江苏省计量科学研究院的检测,并通过中仪器仪表学会分析仪器分会组织的科技成果鉴定,技术达到际水平。
1.超低能量分辨率,轻元素检测效果更佳
使用大面积铍窗电致冷SDD探测器,探测器分辨率低达到139eV,各项指标优于家标准。SDD探测器具有良好的能量线
性、良好的能量分辨率,及良好的能谱特性,较高的峰背比;对Si、S、AI等轻元素的测试具有良好的分析精度。
2. 测试精度更高,检出限更低
①业化的样品腔设计,带可调速的自旋样品腔,能的测定轻元素和减少样品均性的影响,提高样品的测试精度。
②采用超小超真空的样品腔设计,测试时达到10Pa以下,使设备的测试范围可从F元素起测试,大大地提高测试范围、轻元素检出限和精度。
3. 分析速度更快,从1即可得到定性定量结果
采用自主研发的数字多道技术,其大线性计数率可达100kcps,可以更加快速的分析,从1就可以得出定性定量结果,
设计成高计数率,大大提高了设备的稳定性。
4. 键式智能化操作
业软件,的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化的应用软件,具有高灵敏度、测试时间短、键智能化操作,使操作简易,对操作人员限制小的特点。
5. 强大的自动化功能
①自动化程度高,具有自动开盖、自动切换准直器与滤光片等功能。
②采用自动稳谱装置,了仪器工作的致性:利用解谱技术使谱峰分解,采用多参数的线性回归方法,使元素间的吸收、排斥效应得到明显的降低。
6. 强度校正法
具有多种测试模式设置和无限数目模式的自由添加,内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
7. 完善的光路系统
自主研发的光路系统,光程更短,光路损失更少,激发效果更佳。
8. 三重安防护功能
三重安防护功能,自动感应,没有样品时仪器不工作,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安罩。
9. 安警示系统
警告指示系统,通电时绿色指示灯亮,测试时黄色辐射指示灯闪烁,防止误操作。
铍窗电制冷SDD探测器
自旋式样品腔
超薄窗X光管
信噪比增强器SNE
超近光路增强系统
可自动开启的测试盖
自动切换型准直器和滤光片
真空腔体
自动稳谱装置
90mm×70mm的液晶屏
的数字多道技术
多变量非线性回归程序
相互独立的基体效应校正模型
X荧光矿石元素分析仪为粉未冶炼行业研发的款设备,主要应用在水泥冶炼、钢铁冶炼、矿冶炼(铜矿、铅矿等)、铝冶炼、玻璃制造、耐火材料分析、各种粉未冶金分析行业、石油勘探录井分析域。
同时在地质、矿样、冶金、稀土材料、环境监测、有色金属、食品、农业等科研院所、大院校和工矿企业中也得到广泛应用。
江苏天瑞仪器股份有限公司是业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售体型企业。 2011年1月25日,天瑞仪器在深圳创业板块上市。股票代码为300165。分析仪器行业的家也是目唯家上市公司,公司现有员工1100人,包括研发部、技术部、生产部、内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门,且公司规模日益壮大。公司拥有际流的X荧光分析技术域的家队伍,具有雄厚的资金势力、尖的技术水平、流服务标准和的管理模式。同时,公司与内外相关域的业研究院所和企业保持着密切的合作关系,实时追踪际X荧光分析域沿的理论和技术。目公司已被授予“家民营科技企业”、“江苏省技术企业”、“苏州市分析仪器工程技术研究中心”、 “江苏省昆山市企业技术中心”、“江苏省昆山市产品质量监督检验所RoHS检测二室”等称号。
天瑞拥有球为的测量(圆度仪、测长仪、三坐标机、影像测量仪、测高仪等)以及加工仪器(精密数控加工车床、磨床、加工中心)等设备,用以改进仪器关键零部件的精密度,以提高仪器的精细化水平和测量度等整体指标水平,建立业化、集中化的产业制造基地,天瑞仪器光谱、色谱、质谱的主要仪器型号生产线的运作,生产物资调度,出厂零部件测试、质检,以及仪器的生产、组装、安装、评测、品质管理等。
天瑞为所售仪器提供终身业的拓展空间,在客户新产品研发所需检测的其它项目,天瑞业的化学实验室可为客户提供免费、快速的业样品分析。
天瑞分析测试仪器产业园是江苏省昆山市人民政府特别批准的内流的业分析测试仪器产业园。
Based on its mature desk XRF spectrometer technology, combined with latest technical results abroad, Skyray Instrument has developed EDX 3600K XRF Spectrometer in possession of independent intellectual property. The biggest strength is its large Be window high resolution.
SDD detector and rotary sample chamber. The product has passed the detection of China authoritative institutes, and the technology reaches advanced world level.
Application Field
It is a high-end device developed for powder metallurgy industry, mainly applied in industries like cement, steel smelting, ore smelting(copper ore, lead ore etc.), aluminum smelting, glass-making, refractory material analysis, powder metallurgy analysis, oil exploration, logging and analysis.
It can be also widely applied in geology, metallurgy, rare earth, environmental monitoring, non-ferrous metal, foodstuff, agriculture etc.
Performance Features
1. Ultralow energy resolution, better light element detection effect
It adopts large area Be window electric-cooling SDD detector with resolution as low as 139ev and all parameters better than national standard. With its good energy linearity, energy resolution, spectral features and higher peak-to-background ratio, SDD detector delivers better analytical precision on light elements like Si, S, Al.
2.Higher test accuracy, lower detection limit
Specialized sample chamber design. Rotary sample platform can test light elements more effectively. Vacuum sample chamber guarantees test pressure less than 10pa, thus enlarging test range and improve test accuracy.
3. Faster analysis, present test result within seconds
It adopts self-developed digital multichannel technology, with maximum linear count rate reaching 10kcps, to quicken analysis and improve stability.
4. One-click intelligent operation
Professional software integrating FP and EC algorithms facilitates test operation and shortens test time.
5. Automation
It is highly automated, with the functions of auto-opening, auto-switch of collimators and filters. Automatic spectrum stabilizing device is used to guarantee performance consistency.
6. Intensity correction method
Customers can set and add various test modes. The internal intensity correction method can correct the deviation caused by the different geometrical state and nonuniform density of test samples.
7. Perfect optical path system
The self-developed optical path system is featured by shorter optical path, less optical loss and better excitation effect.
8.Safety protection function
It has sound safety protection function;no X ray leakage when instrument shuts down
9.Safety Indication
The green light is on when the instrument is powered on; the yellow light will blink to indicate radiation when it is testing.
Configuration
Detector DMCA100SDD: SDD, 25mm2, 0.5mil, 140±5eV
X-ray source: 50kV, 1mA
Collimator: Ф6mm
Filters: 6 switchable filters
Sample chamber: lighting, Ф85×42mm
Test platform 360°electrical rotation type
Indication and warning: green power light, radiation warning light
Protective system: sample chamber is controlled electrically. The test is completed when opening cover.
Vacuum system: vacuum degree <10Pa
Sample location: unique sample cup design, with compression ring to prevent the sample from moving
Digital multi-channel technology count rate >50kcps
Technical Parameters
Model: EDX3600K
Size: 669mm×540mm×874mm
Sanple chamber size: Φ40.5mm×39.5mmm
Weight: 90KG
Measurable elements: F– U
Simultaneous analysis of element: more than 30 kinds of elements (more elements can be added based on customer’s demands)
Analytical Range:1 ppm-99.99% (it varies according to different materials)
Analytical Accuracy: 0.05%(for samples with content higher than 96%)
Measuring time: 10 – 100 seconds
Resolution: 140±5eV
Excitation source: 50KV/1000uA-Rh, W target X-ray tube and high voltage power supply
Ambient temperature: 15℃—30℃
Ambient humidity: ≤70%
Working voltage: AC 110V/220V
Detecting object:Standard pressed powder sample(size:40mm in diameter)
原创作者:江苏天瑞仪器股份有限公司.